·
CRC Handbook of Chemistry and Physics, editor D.R. Lide, 74th edn, CRC
Press, Florida, USA (1993-1994)
·
Ewing, G.W.,
Instrumental Methods of Chemical Analysis,
5th Edn, McGraw-Hill Book Co., Singapore, 1985.
·
Harris, D.C.,
Quantitative Chemical Analysis, 4th
edn, Freeman Co, Jan Francisco, 1995.
·
Kellner, R., Mermet, J.M.,
Otto, M. and Widmer H.M., Analytical
Chemistry, Wiley-VCH, Weinheim Germany, 1998.
·
Rouessac, F., and Rouessac A.,
Chemical Analysis. Modern
Instrumentation, Methods and Techniques, 5th edn, Wiley and Sons
Ltd, Chichester, England, 2000.
·
Skoog, D.A., Holler F.J.,
Nieman T.A., Principles of Instrumental
Analysis, 5th edn, Brooks/Cole-Thomson Learning, USA, 1988.
·
Mc Murry, J.,
Οργανική Χημεία Τόμος Ι, Απόδοση στα
Ελληνικά από Βάρβογλη, Α., Ορφανόπουλο Μ., Σμόνου Ι και Στρατάκη Μ.,
Πανεπιστημιακές Εκδόσεις Κρήτης, Ηράκλειο, 1998.
·
Skoog, D.A., Holler F.J., Nieman T.A.,
Αρχές Ενόργανης Ανάλυσης, 5th
edn, μεταφραστική ομάδα Καραγιάννης Μ.Ι.,
Ευσταθίου Κ.Η., Χανιωτάκης Ν., Εκδόσεις Κωσταράκης, Αθήνα 2002.
·
Αγγλοελληνικό Λεξικό Ορολογίας, Ευσταθίου Κ., Αγγλοελληνικό Λεξικό
Χημικών και Συγγενών με την Χημεία όρων, Εκδόσεις ΕΚΠΑ, Αθήνα 1998.
·
E. Hecht, A. Zając,
Optics, Addison-Wesley Pub. Co., 1974
·
P.Yu, M. Cardona,
Fundamentals of Semiconductors,
Springer Verlag
·
Modulation Spectroscopy, M.
Cardona, Academic Press, 1969
·
Light Scattering in Solids, M.
Cardona, G. Güntherodt, Springer Verlag
·
Raman scattering in materials science / Willes H. Weber, Roberto Merlin (eds.), Springer, 2000
·
Semiconductor Devices, S. M.
Sze, Wiley, 1985
·
Secondary ion mass spectrometry: a practical handbook for
depth profiling and bulk impurity analysis, Robert
G. Wilson, F. A. Stevie, C. W. Magee, Willey 1989 (Δεν
είναι
διαθέσιμο
στην
βιβλιοθήκη)
·
ToF-SIMS: Surface Analysis by Mass Spectrometry, J. C. Vickerman, David Briggs, Chichester, 2001. (Δεν
είναι
διαθέσιμο
στην
βιβλιοθήκη)